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Infineon 600V coolmos ? C7 超結(jié)( sj ) mosfet 系列的關閉損耗( e oss )比 coolmos ? cp 減少 ~50% ,在 pfc 、 ttf 和其他硬切換拓撲結(jié)構(gòu)中提供卓越的性能水平。IPL60R185C7 還是高功率密度充電器設計的完美匹配。
可提高切換頻率、而不會降低效率
測量顯示輕負載和滿負載效率的關鍵參數(shù)
將切換頻率加倍將使磁性元件的尺寸減半
適用于相同 r ds ( on )的較小封裝
可用于更多位置、用于硬切換和軟切換拓撲
屬性 | 數(shù)值 |
---|---|
通道類型 | N |
最大連續(xù)漏極電流 | 13 A |
最大漏源電壓 | 600 V |
封裝類型 | DPAK (TO-252) |
引腳數(shù)目 | 3 |
最大漏源電阻值 | 180 米Ω |
通道模式 | 增強 |
最大柵閾值電壓 | 4V |
晶體管材料 | Si |
每片芯片元件數(shù)目 | 1 |