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　　1  引  言

　　近年來，隨著高亮度半導體泵浦技術、雙包層增益光纖技術、功率合束器等技術的進步，高功率光纖激光器迅猛發展。目前，單模激光器的輸出功率已經達到了20kW。在一定的制冷條件下，隨著光纖激光器輸出功率的提高，增益光纖中的溫度也隨之迅速升高。由于普通增益光纖涂覆層長時間穩定的許可溫度為 80℃，為了實現長時間的穩定工作，必須對光纖激光器增益光纖的溫度進行嚴格控制。此外，研究發現，光纖中的溫度分布能夠顯著影響高功率光纖激光器的性能。增益光纖中的高溫會使高功率光纖激光器的穩定性下降，并導致激光器中模式不穩定現象（Mode Instability，MI）的發生。相關研究表明，增益光纖中內部溫度越高，越容易產生模式不穩定現象，低溫則不容易產生模式不穩定現象。另外，光纖中過高的溫度分布會影響其它的非線性效應，影響光纖激光器的輸出特性。因此，為了保證高功率光纖激光器的穩定輸出，避免增益光纖在使用過程中的損傷，對增益光纖中的溫度分布進行監測是非常有必要的。目前，對于光纖激光器中增益光纖的溫度測量尚無較多研究，本文主要介紹傳統分布式光纖傳感的基本原理， 并根據現有高功率增益光纖溫度測量的結果，對比并說明何種傳感方式有望用于高功率光纖激光器的溫度測量中，以期對高功率光纖激光器的溫度場測量提供參考，并對模式不穩定、非線性效應等現象的研究提供一種新的認知手段。

　　2  分布式溫度測量的分類

　　分布式光纖傳感技術不僅具有一般光纖傳感器高精度的優點，而且可以在沿光纖路徑上同時得到被測量場在時間和空間上的連續分布信息，在橋梁、油漆罐、高壓線路等領域有著廣泛的應用前景。目前，分布式光纖傳感技術主要是基于光纖中的后向散射實現傳感，如瑞利散射、拉曼散射和布里淵散射。基于后向瑞利散射的分布式光纖傳感技術主要有光時域反射法（OTDR，Optical Time Domain Reflectometry）和光頻域反射法（OFDR，Optical Frequency Domain Reflectometry）。 基于拉曼散射的全分布式光纖傳感技術主要有拉曼光時域反射技術（ROTDR，Raman Optical Time Domain Reflectometry）和拉曼光頻域反射技術（ROFDR，Raman Optical Frequency Domain Reflectometry）?；诓祭餃Y散射的全分布式光纖傳感技術主要有布里淵光時域反射技術（BOTDR，Brillouin Optical Time Domain Reflectometry）、布里淵光時域分析技術（BOTDA，Brillouin Optical Time Domain Analysis） 、布里淵光頻域分析技術（BOFDA，Brillouin Optical Frequency Domain Analysis）和布里淵相干域分析技術（BOCDA，Brillouin Optical Correlation Domain Analysis）。其中OTDR技術傳感距離長（一般在千米量級），空間分辨率較低（一般在10m 左右），適用于測量長距離光纖中的損耗和斷點。OFDR技術的傳感距離通常不超過100m，空間分辨率高（可以達到厘米量級甚至是微米量級），溫度分辨率高，適用于短距離光纖中高空間分辨率的溫度測量。ROTDR技術和ROFDR技術的傳感距離都較長（幾百米至幾千米），空間分辨率較低（通常為幾十厘米）。BOTDR技術和 BOTDA 技術的傳感距離長（千米量級），空間分辨率高（可達到厘米量級），能夠精確測量光纖中的溫度和應力。BOFDA 技術和 BOCDA 技術的傳感距離較短（一般為幾十米至幾百米），空間分辨率高（可以達到厘米量級甚至是毫米量級），溫度分辨率高。表1對比了不同分布式傳感方法的優缺點。 相比于傳統的分布式光纖傳感系統，高功率增益光纖中的溫度測量具有測量光纖長度相對較短，空間分辨率和溫度分辨率要求較高，測量時間要求較短等特點?；诖耍疚闹攸c研究了OFDR 技術、BOTDA 技術、BOFDA 技術和 BOCDA 技術的原理、發展現狀及其應用于增益光纖中溫度測量的可行性。

表1 不同傳感方式的主要技術參數與應用場合

　　3  不同傳感方式的原理與現狀

　　根據上文所述的分布式溫度測量的分類，考慮到高功率增益光纖溫度測量的空間分辨率要求較高，溫度分辨率要求較高，測量時間要求較短，而OTDR、ROTDR 和ROFDR等技術不能夠滿足上述條件。同時，在基于自發布里淵散射的 BOTDR 技術中，由于后向自發布里淵散射光較微弱（其功率比后向瑞利散射光功率低約20~30dB），其信號檢測比較困難。因此，本節主要介紹 OFDR 技術、BOTDA技術、BOFDA技術和BOCDA 技術的原理與現狀。

　　3.1 OFDR 技術的原理與現狀

　　3.1.1 OFDR 技術的基本原理

　　OFDR技術最初是由德國Hamburg-Harburg大學的W.Eickhoff于1981年提出的， 其基本原理如圖1所示，線性掃頻光源輸出連續光被光纖耦合器分為兩路。其中一路光波注入到待測光纖中，該路激光在光纖中傳播時會不斷產生后向瑞利散射光，這些后向瑞利散射光成為信號光通過光纖耦合器耦合到光電探測器中。另一路光束經過固定反射鏡反射后作為參考光返回耦合器， 同樣被耦合到光電探測器中。 光電探測器中得到的是參考光和待測后向瑞利散射光的混頻信號，而后將信號輸入到頻譜儀中，對其進行頻譜測量。由于OFDR 技術中的激光光源為線性掃頻光源，故在光纖上不同位置x處的后向瑞利散射光的光頻不同。因此，通過檢測探測器上的光頻，可以獲知光纖上的位置信息，返回的瑞利散射光的振幅與光纖的局部散射因子以及振幅衰減因子成正比。通過在頻譜分析儀中進行傅里葉變換，可以同時獲知光纖中所有位置處的后向散射光信息，這些信息和頻譜分析儀中的頻率Ω直接對應。

圖1 OFDR 技術的基本原理圖