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    用戶可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀，磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀一般測(cè)量的厚度適用0-5毫米，這類儀器又分探頭與主機(jī)一體型，探頭與主機(jī)分離型，前者操作便捷，后者適用于測(cè)非平面的外形。

    更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè)，測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。

    儀器特點(diǎn)

    采用雙功能內(nèi)置式探頭，自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式進(jìn)行測(cè)量。

    符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在任何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。

    采用手機(jī)菜單式功能選擇方式，操作十分簡(jiǎn)便。

    可設(shè)定上下限值，測(cè)量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時(shí)，儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。

    穩(wěn)定性極高，通常不必校正便可長(zhǎng)期使用。

    影響便攜式涂層測(cè)厚儀測(cè)量的十大因素如下：

    1，基體金屬磁性 磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為時(shí)輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與試件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

    2，基體金屬厚度 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。

    3，邊緣效應(yīng) 便攜式涂層測(cè)厚儀對(duì)試片表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

    4，曲率 試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。

    5，表面粗糙度 基體金屬何覆蓋層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差何偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。

    如果基體金屬粗糙，還必須在未屠夫的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去基體金屬覆蓋層，再校對(duì)便攜式涂層測(cè)厚儀的零點(diǎn)。

    6，磁場(chǎng) 周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)量厚度的工作。

    7，附著物質(zhì) 本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

    8，便攜式涂層測(cè)厚儀探頭壓力 探頭置于試件上施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。因此本儀器探頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。

    9，便攜式涂層測(cè)厚儀探頭的放置 探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使探頭與試樣表面保持垂直。

    10，便攜式涂層測(cè)厚儀試件的變形 探頭使軟覆蓋層試件變形。因此在這些試件上會(huì)測(cè)出不太可靠的數(shù)據(jù)。 讀數(shù)次數(shù) 通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。

    因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量。表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。

標(biāo)簽:                                    涂層測(cè)厚儀