在《淺談天線隔離度問題上篇——天線隔離的定義》中，我們提到天線輻射方向圖也會影響天線的隔離度。
只需將兩個天線輻射最弱的方向相對，就可以獲得較好的隔離度指標。
但是天線輻射方向圖有時候并沒有辦法通過簡單的經驗判斷來得出，特別是我們終端中的PCB天線，PIFA天線，IFA天線。
這些天線的輻射方向圖受到天線周圍環(huán)境以及地平面的影響，光靠看是看不出個123的。
要想提前預知天線輻射的方向圖，只能通過準確的3D電磁場仿真才能得出結果。
比如說我們現在這塊板子，就用了CST來進行仿真設計，預測了天線的方向圖以及天線的隔離度。
大家可以一起來看看，我們仿真和實測的結果到底與多大的區(qū)別。
1、2號天線隔離度仿真與實測對比
1、4號天線隔離度仿真與實測對比
通過仿真，我們可以預知天線的方向圖，從而提前修改天線的形狀，位置，以達到提高天線隔離度的目的。
但是，如果說天線位置已經固定，并且通過更改天線形式，已經無法做到隔離度的提升時，有沒有其他的辦法來解決這個問題呢？
也是有的。天線間的互耦會影響隔離度，那么如果通過匹配解耦的方式來調節(jié)，理論上來說也是有可能讓隔離度再次優(yōu)化的。
退耦網絡拓撲圖如下。
D網絡作為一個四端口網絡，起到一個退耦的作用，它的目標就是通過網絡變換將S21變?yōu)?。
在網絡變換的過程中，S11和S22必然會劣化，所以需要匹配網絡M來將天線匹配到一個合適的值。
我們將這兩個天線當成一個雙端口網絡，然后用網分測試出這個雙端口網絡的S參數，保存為SNP文件并導入ADS仿真。
這里采用ADS仿真是為了快速找到合適的集總參數器件，實際匹配情況可能和仿真結果略有差別。
下面是仿真結果。
改善前
改善后
通過仿真得到器件值以后，我們在真實主板中將這些器件焊接上去，看看隔離度能否得到真實優(yōu)化。
實際使用的匹配器件，和仿真器件略有差別，仿真結果只作為定性，測試結果需以實際器件為準。
通過實測結果與仿真結果對比，我們可以看到，隔離度曲線基本吻合，而且相比之前有比較大改善，從-10dB直接優(yōu)化的-20dB，而天線本身的VSWR則沒有太過于劣化。
這說明通過添加退耦網絡改善天線隔離性能是真實有效的。
終端天線的隔離問題確實是天線設計中的一個難點，但是我們有多種方法來進行規(guī)避。但是無論哪種方法，都需要在開發(fā)前期做預設計，充分考慮后期調試可能出現的情況。
