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發(fā)布日期:2022-04-26 點擊率:102
高溫試驗箱軍用/民用可靠性環(huán)境試驗國家標準總結(jié):
GJB128A-97《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》
GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法高溫試驗》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB4.2-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗高溫試驗》
GJB360A-96電子及電氣元件試驗方法方法108高溫壽命試驗
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.28高溫試驗
GJB548A-96《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D《微電子器件試驗方法和程序》
GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》
SJ/T10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1高溫負荷試驗
SJ/T10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2高溫貯存試驗
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗方法》
RTCA/DO-160E機載設(shè)備環(huán)境條件和試驗方法
注:高溫試驗箱用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進行高溫或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
標簽: 高溫試驗箱
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