所謂激光粒度儀是專指通過顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來分析顆粒大小的儀器。根據(jù)激光散射原理，顆粒大小不同，散射光能量隨散射角度的分布也不同，此種分布稱為散射譜。激光粒度儀就是通過檢測顆粒群的散射譜反演顆粒大小及其分布的。
獲得顆粒散射譜的基本光路示意圖
1、為什麼散射/衍射激光粒度儀必須采用激光作光源
激光粒度儀是通過檢測顆粒的散射譜來分析顆粒大小與分布的，因此能否獲得清晰的散射譜至關(guān)重要，激光是一種準直性，單色性良好的光源，只有采用激光才能在散射/衍射粒度儀器中得到清晰的散射譜分布。用多種波長混合的光源不可能獲得清晰的散射譜，只能獲得多種散射譜的疊加，因此不能用于粒度儀。
在多種激光器中半導體激光與氣體激光相比，氣體光源波長短，線寬窄，單色性好，穩(wěn)定性遠優(yōu)于半導體光源。因此微納與大多數(shù)專業(yè)公司選用了氣體激光器作為測量光源。
2、激光粒度儀與其他方法相比有什么優(yōu)勢？
激光粒度儀的光路實際是一個二維傅立葉變換器，因此具有傅立葉變換的許多特點：1、所有顆粒的散射信息是以光速并行傳輸?shù)竭_光電探測器的，因此速度快無與倫比；2、探測器可以做的非常窄大約幾個微米，因此分辨率非常高；3、測試過程顆粒散射不會受到人為因素的干擾，因此測試重復性超群；4、根據(jù)傅立葉變換的平移不變性，顆粒在樣品池中的運動速度不會影響頻譜分布，因此適用于動態(tài)顆粒的測試，這是其他粒度測試方法所無法比擬的，這成為了顆粒在線測試理論依據(jù)。
3、激光粒度儀測量下限是多少？
激光粒度儀測量粒度的原理是MIE散射理論。 MIE散射理論用數(shù)學語言精確描述了折射率為n、吸收率為m的特定物質(zhì)的，粒徑為d球型顆粒，在波長為λ單色光照射下，散射光強度隨散射角θ變化的空間分布函數(shù)，此函數(shù)也稱為散射譜。根據(jù)MIE散射理論可以看出顆粒越大，前向散射越強而后向散射越弱；隨著顆粒粒徑的減小，前向散射迅速減弱而后向散射逐漸增強。激光粒度儀正是通過設置在不同散射角度的光電探測器陣列，測試顆粒的散射譜，由此確定顆粒粒徑的大小。這種散射譜對于特定顆粒在空間具有穩(wěn)定分布的特征，因此稱此種原理的儀器為靜態(tài)激光粒度儀。
但是當顆粒粒徑小到一定的程度dm，與另一種更小顆粒dm-δ相比，如果二種顆粒的散射譜非常相似，以至不能被光電探測器陣列所分辨，就認為達到了激光粒度儀的測量極限，此粒徑dm就是激光粒度儀的測量下限。
此極限還與激光波長有關(guān)，研究表明紅光635nm波長的激光測量極限為50納米，而藍光405nm波長的激光測量理論極限為20nm。
理論上，靜態(tài)激光粒度儀欲分辨納米級的顆粒至少需要二個條件：1、具有測量后向散射的光電探測器陣列，2、需要用波長更短的激光器。在可見光的范圍內(nèi)，20nm是靜態(tài)激光粒度儀的理論測量下限。
